Время испытания на устойчивость: свип частоты и dwell time
Что считается и как
Испытания на устойчивость по ГОСТ 30804.4.3-2013 (IEC 61000-4-3, излучаемое РЧ поле 80–1000 МГц, расширенные полосы до 6 ГГц по IEC 61000-4-3:2020) и ГОСТ 30804.4.6-2013 (IEC 61000-4-6, кондуктивные помехи 150 кГц – 80 МГц) выполняются пошаговым логарифмическим свипом: каждая следующая частота равна предыдущей × (1 + p/100), шаг p — не более 1 % от текущей частоты. На каждой точке сигнал (80 % AM 1 кГц) выдерживается время dwell — не меньше времени реакции ИТС и, по ГОСТ 30804.4.3, не меньше 0,5 с.
Число точек логарифмической сетки:
Время испытания:
T_сторона = T_проход · поляризации · уровни
T_полн = T_сторона · стороны
C = (T_полн / 3600) · ставка_часа
Для излучаемого поля стандартный объём — 2 поляризации антенны (горизонтальная и вертикальная) × 4 стороны ИТС = 8 проходов на один уровень. Для кондуктивных испытаний поляризаций нет — вместо сторон подставляется число портов ввода (CDN/клещи). T_полн — чистое время свипов: перестановки ИТС, смена антенны и подготовка не входят.
Источники (проверены 2026-07-25): ГОСТ 30804.4.3-2013 (IEC 61000-4-3:2006) — действует с 01.01.2014, шаг сетки ≤ 1 %, dwell не менее времени реакции ИТС и не менее 0,5 с, 2 поляризации × 4 стороны; расширенные полосы 800–960 МГц и 1,4–6 ГГц — IEC 61000-4-3:2020 ed. 4.0; ГОСТ 30804.4.6-2013 (IEC 61000-4-6) — 150 кГц – 80 МГц, шаг ≤ 1 % (явный числовой минимум dwell 0,5 с для кондуктивной ветки в открытых источниках не подтверждён — dwell задаётся временем реакции ИТС). Значения сверены по независимым источникам (тексты стандартов, EDN, отраслевые руководства). Модель прозрачная: геометрическая сетка частот и умножение на объём испытаний.